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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018 5.4 | 现场可编程门阵列 | 功能测试 |
| 2 | 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018 5.1.9 | 现场可编程门阵列 | 输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> |
| 3 | 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018 5.1.10 | 现场可编程门阵列 | 输入高电平电流I<Sub>IH</Sub> |
| 4 | 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018 5.1.5 | 现场可编程门阵列 | 输出低电平电压V<Sub>OL</Sub> |
| 5 | 半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018 5.1.4 | 现场可编程门阵列 | 输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据现场可编程门阵列检测项目而定。
检测报告有效期
一般现场可编程门阵列检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《现场可编程门阵列检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
