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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.3 | 晶体管和有键合引线二极管 | X射线检查 |
| 2 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.8 | 晶体管和有键合引线二极管 | 内部目检 |
| 3 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.11 | 晶体管和有键合引线二极管 | 剪切强度 |
| 4 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.2 | 晶体管和有键合引线二极管 | 外部目检 |
| 5 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.6 | 晶体管和有键合引线二极管 | 密封 |
| 6 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.10 | 晶体管和有键合引线二极管 | 扫描电子显微镜（SEM）检查 |
| 7 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.5 | 晶体管和有键合引线二极管 | 粒子碰撞噪声检测（PIND） |
| 8 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1003/2.9 | 晶体管和有键合引线二极管 | 键合强度 |
| 9 | *用电子元器件破坏性物理分析方法 | 晶体管和有键合引线二极管 | 扫描电子显微镜（SEM）检查 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据晶体管和有键合引线二极管检测项目而定。
检测报告有效期
一般晶体管和有键合引线二极管检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《晶体管和有键合引线二极管检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
