标准简介：本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。

标准号：GB/T 38532-2020

标准名称：微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

英文名称：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2020-03-06

实施日期：2021-02-01

中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法

国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析

起草单位：中国宝武钢铁集团中央研究院、上海发电设备成套设计研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布单位：国家市场监督管理总局.