检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了硅单晶切割片、研磨片和抛光片的抗弯强度测试方法。本标准适用于晶向为〈111〉和〈100〉的直拉、悬浮区熔硅单晶片的常温下抗弯强度的测量。硅片厚度为250～900μm。
标准号：GB/T 15615-1995
标准名称：硅片抗弯强度测试方法
英文名称：Test method for measuring flexure strength of silicon slices
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：1995-07-12
实施日期：1996-02-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H23金属工艺性能试验方法
国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
起草单位：中南工业大学
归口单位：全国半导体材料和设备标准化技术委员会
发布单位：国家技术监督局
检测流程步骤
免责声明：
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
