- N +

GB/T15873-1995半导体设施接口技术文件编写导则

检测报告图片模板:

检测报告图片

检测执行标准信息一览:

标准简介:本标准规定了半导体设施接口技术文件编写的基本要求和格式。本标准适用于半导体设施的设计、施工、供应、管理、培训及使用。

标准号:GB/T 15873-1995

标准名称:半导体设施接口技术文件编写导则

英文名称:Directives for drafting semiconductor facilities interface specification

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:1995-01-02

实施日期:1996-08-01

中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>电子工业生产设备>>L97加工专用设备

国际标准分类号(ICS):电子学>>电子电信设备用机电零部件>>31.220.10插头和插座装置、连接器

起草单位:中国华晶电子集团公司

归口单位:信息产业部(电子)

发布单位:国家技术监督局

检测流程步骤

检测流程步骤

免责声明:

1.本站标准库为非营利性质,仅供各行人士相互交流、学习使用,使用标准请以正式出版的标准版本为准。

2.全部标准资料均来源于网络,不保证文件的准确性和完整性,如因使用文件造成损失,本站不承担任何责任。

3.全部标准资料均来源于网络,本站不承担任何技术及版权问题,如有相关内容侵权,请联系我们删除。

返回列表
上一篇:GB12085.2-1989光学和光学仪器环境试验方法低温、高温、湿热
下一篇:GB/T12085.20-2011光学和光学仪器环境试验方法第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气