- N +

单晶硅检测

检测报告图片

检测报告图片

单晶硅检测报告测试项目有哪些?检测标准方法是什么?检测费用多少呢?检测报告有效期多久?下面百小检为您解答。

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新,测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台,一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

检测样品

单晶硅

检测项目

芯片外观,纯度检测,电阻率检测,寿命检测,含量检测等。

国标参考

GB/T 6492-1986航天用标准太阳电池

GB/T 6494-2017航天用太阳电池电性能检测方法

GB/T 6496-2017航天用太阳电池标定方法

GB/T 14015-1992硅-兰宝石外延片

GB/T 20176-2006表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

GB/T 29054-2019太阳能电池用铸造多晶硅块

GB/T 29055-2019太阳能电池用多晶硅片

GB/T 29057-2012用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程

GB/T 29195-2012地面用晶体硅太阳电池总规范

GB/T 32277-2015硅的仪器中子活化分析检测方法

行标参考

JC/T 1048-2018单晶硅生长用石英坩埚

JC/T 2515-2019硅粉输送用陶瓷球阀 技术条件

SJ/T 11775-2021半导体材料多线切割机

SJ/T 11776-2021谐波保护器

国际标准参考

DIN 50434-1986半导体材料的检验; 单晶硅试样的(111) 和(100) 蚀面上晶体结构缺陷的测定

DIN 50443-1-1988半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性

DIN 50443-2-1994半导体工艺材料检验;用X射线粘扑法证明半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性.Ⅲ-V-连接半导体

DIN 50453-1-1990半导体技术用材料的检验;腐蚀剂腐蚀率的测定;单晶硅,重量法

GOST 19658-1981单晶硅锭 技术条件

GOST 24392-1980单晶硅和单晶锗 电阻率的四探针测定法

KS D0256-2002单晶硅的依据4探针的抵抗率测定法

检测费用价格

免费初检。因测试项目以及实验复杂程度不同,请联系我们确定后进行报价。

检测时间周期

一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据单晶硅检测项目而定。

检测流程步骤

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,可为您提供单晶硅检测服务,实验室就近分配。具体请咨询在线客服。

返回列表
上一篇:脂肪酸检测
下一篇:麻绳检测