国家标准(GB)

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法,本标准规定了硅和外延片表面Na、Al、K 和Fe的二次离子质谱检测方法。本标准适用于用二次离子质谱法(SIMS)检测镜面抛光单晶硅片和外延片表面的Na、Al、K 和Fe每种金属总量。本标准适用于所有掺杂种类和掺杂浓度的硅片。"
GB/T 9441-2009球墨铸铁金相检验

GB/T 9441-2009球墨铸铁金相检验

GB/T 9441-2009球墨铸铁金相检验,本标准规定了在光学显微镜下球墨铸铁显微组织的评定方法。本标准对球化分级、石墨大小、石墨球数、珠光体数量、分散分布的铁素体数量、磷共晶数量和碳化物数量的评定方法作了规定,列出了相应评级图。本标准适用于评定普通和低合金球墨铸铁铸态、正火态、退火态的金相组织。"
GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法,本标准用于标称圆形晶片边缘平直部分长度小于等于65mm 的电学材料。本标准仅对硅片精度进行确认,预期精度不因材料而改变。本标准适用于仲裁测量,当规定的限度要求高于用尺子和肉眼检测能够获得的精度时,本标准也可用于常规验收测量。"
GB/T 24514-2009钢表面锌基和(或)铝基镀层 单位面积镀层质量和化学成分测定

GB/T 24514-2009钢表面锌基和(或)铝基镀层 单位面积镀层质量和化学成分测定

GB/T 24514-2009钢表面锌基和(或)铝基镀层 单位面积镀层质量和化学成分测定 重量法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法,本标准规定了用重量法测定单位面积镀层质量的方法,以及用电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法测定钢表面锌基和(或)铝基单面镀层化学成分的方法。"
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