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半导体芯片检测

检测报告图片

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半导体芯片检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照半导体芯片检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。

涉及半导体 芯片的标准有28条。

国际标准分类中,半导体 芯片涉及到半导体分立器件、光电子学、激光设备、集成电路、微电子学、电子元器件综合、字符集和信息编码、光纤通信、半导体材料。

在中国标准分类中,半导体 芯片涉及到半导体分立器件综合、半导体发光器件、微电路综合、半导体分立器件、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、光通信设备、半导体集成电路、电工仪器、仪表综合、标准化、质量管理、元素半导体材料。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于半导体 芯片的标准

GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度

国家质检总局,关于半导体 芯片的标准

GB/T 36357-2018中功率半导体发光二极管芯片技术规范

GB/T 36356-2018功率半导体发光二极管芯片技术规范

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于半导体 芯片的标准

GB/T 35010.3-2018半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南

GB/T 35010.5-2018半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求

GB/T 35010.1-2018半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求

GB/T 35010.6-2018半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求

GB/T 35010.8-2018半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式

GB/T 35010.2-2018半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式

GB/T 35010.4-2018半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求

GB/T 35010.7-2018半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式

,关于半导体 芯片的标准

SIS SS CECC 00013-1985基本规范.半导体芯片的扫描电子显微镜观察

英国标准学会,关于半导体 芯片的标准

BS PD CLC/TR 62258-4-2013半导体芯片产品. 对芯片用户和供应商的问卷调查

德国标准化学会,关于半导体 芯片的标准

DIN EN 62258-2-2011半导体芯片级产品.第2部分:交换数据格式(IEC 62258-2-2011).英文版 EN 62258-2-2011

DIN 50441-2-1998半导体工艺材料的试验.半导体芯片几何尺寸的测量.第2部分:棱角剖面的试验

福建省地方标准,关于半导体 芯片的标准

DB35/T 1193-2011半导体发光二极管芯片

行业标准-电子,关于半导体 芯片的标准

SJ/T 11398-2009功率半导体发光二极管芯片技术规范

SJ/T 11402-2009光纤通信用半导体激光器芯片技术规范

SJ/T 11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

SJ/T 10416-1993半导体分立器件芯片总规范

美国国防后勤局,关于半导体 芯片的标准

DLA SMD-5962-04227 REV B-2005多芯片模块双电压耐辐射静态随机存取存储器,512千 X 32比特,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-91566 REV C-1996硅单块 互补金属氧化物半导体单一芯片8比特微型控制器,数字微型电路

DLA SMD-5962-90976-1992硅单块 带随机存取存储器芯片数据的8比特微控制器,互补高性能金属氧化物半导体结构单芯片,微型电路

DLA SMD-5962-87685-1987硅单块 N沟道金属氧化物半导体,8比特微处理器芯片,微型电路

美国电子电路和电子互连行业协会,关于半导体 芯片的标准

IPC J-STD-026-1999倒装芯片应用的半导体设计标准IPC/EIA J-STD-026

美国电信工业协会,关于半导体 芯片的标准

TIA J-STD-026-1999IPC/EIA J-STD-026倒装芯片用半导体设计标准

检测报告有效期

一般半导体芯片检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间,不会标注有效期。

检测费用价格

需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定,请联系我们确定后报价。

检测流程步骤

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