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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 2.6 | 集成电路（模拟开关） | 导通态漏电流 |
| 2 | 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.2 | 集成电路（模拟开关） | 导通电阻 |
| 3 | 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 2.5 | 集成电路（模拟开关） | 截止态源极漏电流 |
| 4 | 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 2.4 | 集成电路（模拟开关） | 截止态漏极漏电流 |
| 5 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节4 | 集成电路（模拟开关） | 电源电流 |
| 6 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节/2 第Ⅳ篇/第2节2 | 集成电路（模拟开关） | 输入低电平电流 |
| 7 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节6 | 集成电路（模拟开关） | 输入钳位电压 |
| 8 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节2 | 集成电路（模拟开关） | 输入高电平电流 |
| 9 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节1 | 集成电路（模拟开关） | 输出低电平电压 |
| 10 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第2节1 | 集成电路（模拟开关） | 输出高电平电压 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据集成电路（模拟开关）检测项目而定。
检测报告有效期
一般集成电路（模拟开关）检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《集成电路（模拟开关）检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
