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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体器件分立器件 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ1.10 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 发射极—集电极的击穿电压<I>V</I><Sub>(BR)ECO</Sub> |
| 2 | 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ2 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 栅极—发射极的漏电流<I>I</I><Sub>GES</Sub> |
| 3 | 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ6 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 栅极阈电压<I>V</I><Sub>GE(th)</Sub> |
| 4 | 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ10 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 正向跨导<I>g</I><Sub>m</Sub> |
| 5 | 半导体器件分立器件 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ1.10 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 集电极—发射极的击穿电压<I>V</I><Sub>(BR)CEO</Sub> |
| 6 | 半导体器件分立器件 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ1.4 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 集电极—发射极的饱和电压<I>V</I><Sub>CEsat</Sub> |
| 7 | 半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 Ⅳ3 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 零栅压时的集电极电流<I>I</I><Sub>CES</Sub> |
| 8 | 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 关断期间的各时间间隔和关断能量 |
| 9 | 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 反向传输电容 |
| 10 | 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012 | 绝缘栅双极晶体管（IGBT） | 开通期间的各时间间隔和开通能量 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据绝缘栅双极晶体管（IGBT）检测项目而定。
检测报告有效期
一般绝缘栅双极晶体管（IGBT）检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《绝缘栅双极晶体管（IGBT）检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
