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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990 3.4.1 | 半导体分立器件发光二极管 | 不工作器件 |
| 2 | 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1节 2 | 半导体分立器件发光二极管 | 反向电流 |
| 3 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 3.1 | 半导体分立器件发光二极管 | 发光强度 |
| 4 | 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 2.1 | 半导体分立器件发光二极管 | 可焊性 |
| 5 | 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 4.3.1.1 | 半导体分立器件发光二极管 | 外部目检 |
| 6 | 半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990 附录B | 半导体分立器件发光二极管 | 尺寸 |
| 7 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 3.3 | 半导体分立器件发光二极管 | 峰值发射波长 |
| 8 | 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 1.1，1.2 | 半导体分立器件发光二极管 | 引出端强度 |
| 9 | 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 3,4 | 半导体分立器件发光二极管 | 机械冲击或振动 |
| 10 | 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1节 1 | 半导体分立器件发光二极管 | 正向电压 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体分立器件发光二极管检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体分立器件发光二极管检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体分立器件发光二极管检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
