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半导体分立器件外壳检验测试机构

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半导体分立器件外壳检测哪些项目?检测周期多久呢?测试方法有哪些?我们严格按照标准进行检测和评估,确保检测结果的准确性和可靠性。同时,我们还根据客户的需求,提供个性化的检测方案和报告,帮助厂家更好地了解产品质量和性能。百检第三方检测机构支持寄样、上门检测,主要为公司、企业、事业单位、个体商户、高校科研提供样品检测服务,报告CMA/CNAS/CAL资质,真实有效。做检测,找百检!

检测项目(参考):

引线电阻、引线间电容、绝缘电阻、镀层厚度、介质耐电压、外形尺寸

检测标准一览:

1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 4.7

2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 方法201

3、GB/T16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

4、GJB923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 3.6.2

5、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 GJB 923A-2004

6、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

7、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 SJ 20129-1992

检测时间周期

一般3-10个工作日(特殊样品除外),具体请咨询客服。

检测报告用途

商超入驻、电商上架、内部品控、招投标、高校科研等。

如果您对产品品质和安全性能有严格要求,不妨考虑选择我们的检测服务。让我们助您一臂之力,共创美好未来。

检测流程步骤

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第三方检测机构平台

百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,检测领域包括食品、环境、建材、电子、化工、汽车、家居、纺织品、农产品等,具体请咨询在线客服。

温馨提示:以上内容为部分列举,仅供参考使用,更多检测需求请咨询客服。

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