间歇寿命试验测试报告

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一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

间歇寿命试验检测项目及标准有哪些?检测实验室可根据DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程等相关标准制定试验方案。对样品检测的间歇寿命试验等项目进行检测分析。并出具严谨公正的按钮寿命试验报告。

间歇寿命试验等。

PCB、电容、电阻、电感器件、电声器件、磁材料及器件、电接插元件等。

DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

GB/T 15651.4-2017 半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器

GB/T 29332-2012 半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管

GB/T 21039.1-2007 半导体器件分立器件第4-1部分:微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范

GB/T 20516-2006 半导体器件分立器件第4部分:微波器件

GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 13150-2005 半导体器件分立器件电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范

GB/T 13151-2005 半导体器件分立器件第6部分;晶闸管第三篇电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路第5-2部分;光电子器件基本额定值和特性

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法

GB/T 6589-2002 半导体器件分立器件第3-2部分;信号和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管空白详细规范

GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法

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