低矫顽磁性检测报告图片及测试项目清单

检测报告图片

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

标准分类中，低维磁性涉及到信息技术应用、航空航天用电气设备和系统、电气设备元件、数据存储设备。

在中国标准分类中，低维磁性涉及到数据媒体、低压配电电器、磁性元器件、化工机械与设备综合、标准化、质量管理。

，关于低维磁性的标准

GOST R ISO/IEC 7811-2-2017 识别卡. 记录技术. 第2部分. 低矫顽磁性磁条

日本工业标准调查会，关于低维磁性的标准

JIS X6302-2-2016 识别卡.记录技术.第2部分:磁条.低矫顽磁性

JIS X6302-2-2005 识别卡.记录技术.第2部分:磁条.低矫顽磁性

英国标准学会，关于低维磁性的标准

BS ISO/IEC 7811-2-2014 识别卡.记录技术.磁带.低矫顽磁性

标准化组织，关于低维磁性的标准

ISO/IEC 7811-2-2014 识别卡. 记录技术. 第2部分: 磁条. 低矫顽磁性

美国材料与试验协会，关于低维磁性的标准

ASTM A773/A773M-2014 使用磁滞曲线记录仪测定低矫顽磁性材料的直流磁性能的标准试验方法

法国标准化协会，关于低维磁性的标准

NF C93-369-2-2005 软磁材料制芯.测量方法.第2部分:在低激发能级下的磁性能

欧洲电工标准化委员会，关于低维磁性的标准

EN 62044-2-2005 软磁性材料制芯体.测量方法.第2部分:在低激发能级的磁性 IEC 62044-2:2005

美国标准学会，关于低维磁性的标准

ANSI ISO/IEC 7811-2-2001 识别卡记录技术.第2部分:被INCITS采用的磁条低矫顽磁性

ANSI INCITS 112-1984 信息系统.直径为14英寸(356mm)和低表面摩擦性的存储磁盘(每磁道16000传输通量,480tpi).物理和磁性通用要求代替ANSI X3.112-1984

ANSI X3.112-1984 信息系统.直径为14英寸(356mm)和低表面摩擦性的存储磁盘(每磁道16000传输通量,480tpi.).物理和磁性通用要求

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