GBT15651.2-2003

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GB/T15651.2-2003半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

GB/T15651.2-2003半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

标准简介:本部分等同采用IEC60747-5-2:1997《半导体分立器件和集成电器第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性》。 标准号:GB/T 15651.2-2003 标准名称:半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 英文名称:Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-2:Opto
元器件检测标准及测试方法(全)

元器件检测标准及测试方法(全)

元器件检测范围:元器件,电子元器件,电路板元器件,主板元器件,电磁炉元器件,敏感元器件,仪表元器件,磁性元器件,电气元器件,电路板元器件等。元器件检测项目:机械完整性检测:机械冲击、变频振动、热冲击、插拔耐久性、温度循环检测、恒定湿热试验、高温寿命检测等。老化试验:加速老化试验、恒温试验、变温试验、温度循环检测、盐雾试验、紫外老化检测、光老化试验等。物理检测:可燃性检测、剪切强度、可焊性、键合强度、密封性、破坏性检测等。特色检测:显微结构分析、形貌分析、电镜分析、切片分析、镀层分析、目测检测、元素分析、失
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