半导体材料成分检测什么单位可以做?检测项目及标准有哪些?检测实验室可根据GB/T 33049-2016 偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测试方法等相关标准制定试验方案。对半导体材料成分检测的化学成分分析、元素分析等项目进行检测分析。并出具严谨公正的半导体材料成分检测报告。

检测项目

化学成分分析、元素分析、键合强度、扫频振动、引出端强度、剪切强度、电离辐照、气候试验、可焊性等。

适用范围

元素半导体、无机化合物半导体、有机化合物半导体、非晶态与液态半导体等。

相关检测标准

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GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分：键合强度

GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度

GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度

GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照

GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法

GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性

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GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范

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检测流程步骤

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