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*饰金、银覆盖层厚度的测定

X射线荧光光谱法

1范围

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量*饰金、银覆盖层厚度的方法。

本标准适用于*饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定（覆盖层与基体为非相同材质)。注:本方法测定的覆盖层厚度相当于足金或足银的厚度，可根据实际金、银覆盖层含盘进行折算。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的较新版本。凡是不注日期的引用文件，其较新版本适用于本标准。

QB 1131*饰金覆盖层厚度的规定（ISO 10713:1992，MOD)

QB 1132*饰银覆盖层厚度的规定

3方法原理

采用X射线荧光光谱法测量金、银覆盖层厚度是通过检测和分析X射线荧光而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原子的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材料发出的特征X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层厚度。

检测项目及标准

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。