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CMOS集成电路检测报告如何办理?CMOS集成电路检测样品检测报告结果会与标准中要求对比，在报告中体现产品质量。第三方检测机构可提供CMOS集成电路检测报告办理，工程师一对一服务，根据需求选择对应检测标准及项目，制定检测方案后安排实验室寄样检测。CMOS集成电路检测服务

检测周期：常规3-15个工作日，可加急（特殊样品除外）

报告样式：电子版、纸质，中、英文均可。

报告资质：CMA、CNAS

CMOS集成电路检测项目：

检测项目：

A/D互调失真、A/D信噪失真比、A/D信噪比、A/D功耗、A/D增益误差、A/D增益误差温度系数、A/D失码、A/D微分线性误差、A/D微分线性误差温度系数、A/D总谐波失真、A/D数字输入低电平电压、A/D数字输入低电平电流、A/D数字输入高电平电压、A/D数字输入高电平电流、A/D数字输出低电平电压、A/D数字输出高电平电压、A/D无失真动态范围、A/D*低工作频率、A/D*高工作频率、A/D有效位数、A/D线性误差、A/D线性误差温度系数、A/D转换时间、A/D零点误差、A/D零点误差温度系数、D/A互调失真、D/A信噪失真比、D/A信噪比、D/A功耗、D/A基准电压、D/A增益误差、D/A增益误差温度系数、D/A失调误差、D/A失调误差温度系数、D/A建立时间、D/A微分线性误差、D/A微分线性误差温度系数、D/A总谐波失真、D/A数字输入低电平电压、D/A数字输入低电平电流、D/A数字输入高电平电压、D/A数字输入高电平电流、D/A无失真动态范围、D/A有效位数、D/A电源电压灵敏度、D/A线性误差、D/A线性误差温度系数、信号增益、噪声系数、共模抑制比、共模输入电压范围、动态条件下的总电源电流、基准电压、导通时间和截止时间、差分放大器的输出电压范围（仅直流检测）、差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压、开环性能（增益，带宽，失真，动态范围）、开环电压放大倍数、截止态和导通态电流（对模拟信号开关电路）、截止频率、数字集成电路的功能检验方法、电源电压抑制比、电源电流、短路电流、自动增益控制范围、表征电路的时间、调整输出电压的温度系数、输入低电平电流、输入偏置电流温度系数、输入失调电压温度系数、输入失调电流温度系数、输入箝位电压、输入高电平电流、输出低电平电压、输出性能（功耗）、输出电压*大变化率、输出短路电流、输出高电平电压、输出高阻态电流、静态导通电阻、静态条件下的电源电流、（运算放大器）短路输出电流、输入钳位电压、输出高阻态时低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输入低电平 电流、输入高电平 电流、输出低电平 电压、输出高电平 电压、功能检测、传输时间tPHL、传输时间tPLH、保持时间th、动态条件下的总电源电流ICC、建立时间tsu、输入低电平电压VIL、输入低电平电流IIL、输入箝位电压VIK、输入阈值电压VIT+、输入阈值电压VIT-、输入高电平电压VIH、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出低电平电流IOL、输出允许时间tPZH、输出允许时间tPZL、输出短路电流IOS、输出禁止时间tPHZ、输出禁止时间tPLZ、输出高电平电压VOH、输出高电平电流IOH、输出高阻态电流IOZH、输出高阻态电流IOZL、静态条件下的电源电流IDD、输入低电平电流IIL、输入高电平电流IIH、输出低电平电压VOL、输出高电平电压VOH、输出高阻态电流IOZ、静态条件下的电源电流IQ、输出短路电流IOS、输入箝位电压VIK、输入阈值电压VIT+、建立时间tsu、动态条件下的总电源电流ICC、保持时间th、输出高阻态电流IOZL、输出高阻态电流IOZH、输入低电平电压VIL、输出低电平电流IOL、静态条件下的电源电流IDD、输入阈值电压VIT-、输出高电平电流IOH、输入高电平电压VIH、输入失调电流、输入偏置电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输入低电平电压、输入高电平电压、输出低阻态时低电平电流、输出允许时间

CMOS集成电路检测标准：

检测标准：

1、SJ20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器检测方法的基本原理 5.2.11

2、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第3节第1条

4、SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路检测方法的基本原理SJ/T 10741-2000第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

5、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

6、GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节第12条

7、MIL-STD- 883L:2019 微电路检测方法 MIL-STD-883L:2019

8、MIL-STD-883L:2019 微电路检测方法 4006.1

9、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节 4

百检检测流程

1、咨询工程师，提交检测需求。

2、送样/邮递样品。

3、免费初检，进行报价。

4、签订合同和保密协议。

5、进行方案定制、实验。

6、出具实验结果和检测报告。

一份检测报告有什么用?

产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求，能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。

关于检测详细信息可先与百检客服联系，后续会安排对应工程师对接。百检第三方检测机构欢迎您的咨询，期待与您合作。

检测流程步骤

温馨提示：《CMOS集成电路检测项目有哪些 标准是什么》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。