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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 | 半导体集成电路TTL电路 | 功能测试：（静态测试、动态测试） |
| 2 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 3.4至3.9 | 半导体集成电路TTL电路 | 延迟时间t<Sub>pd |
| 3 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.25 | 半导体集成电路TTL电路 | 电源电流I<Sub>CC |
| 4 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.25 | 半导体集成电路TTL电路 | 电源电流I<Sub>DD |
| 5 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 | 半导体集成电路TTL电路 | 结电容C<Sub>j |
| 6 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.5 | 半导体集成电路TTL电路 | 输入低电平电压V<Sub>IL |
| 7 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.13 | 半导体集成电路TTL电路 | 输入低电平电流I<Sub>IL |
| 8 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.1 | 半导体集成电路TTL电路 | 输入钳位电压V<Sub>IK |
| 9 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.2 | 半导体集成电路TTL电路 | 输入高电平电压V<Sub>IH |
| 10 | 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.12 | 半导体集成电路TTL电路 | 输入高电平电流I<Sub>IH |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体集成电路TTL电路检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体集成电路TTL电路检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体集成电路TTL电路检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
