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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节4 | 半导体集成电路存储器 | 工作状态时电源电流 |
| 2 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节4 | 半导体集成电路存储器 | 待机状态时电源电流 |
| 3 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节2 | 半导体集成电路存储器 | 输入低电平电流 |
| 4 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节2 | 半导体集成电路存储器 | 输入高电平电流 |
| 5 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节1 | 半导体集成电路存储器 | 输出低电平电压 |
| 6 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节1 | 半导体集成电路存储器 | 输出高电平电压 |
| 7 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节7 | 半导体集成电路存储器 | 输出高阻态电流 |
| 8 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV 篇 第2 节4 | 半导体集成电路存储器 | 工作状态时电源电流 |
| 9 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV 篇 第2 节2 | 半导体集成电路存储器 | 输入低电平电流 |
| 10 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV 篇 第2 节2 | 半导体集成电路存储器 | 输入高电平电流 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体集成电路存储器检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体集成电路存储器检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体集成电路存储器检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
